AK Rafikov*, SH A Maxmudov, AA Sulaymonov und JZ Mirzarayimov
In dieser Arbeit untersuchten wir die Abhängigkeit der Konzentration von Energieniveauzentren von der Lebensdauer der Ladungsträger in mit Kupfer und Iridium dotierten Siliziumproben sowie die elektrophysikalischen, photoelektrischen und Rekombinationseigenschaften der Probe unter dem Einfluss von Wärme- und Strahlungseinwirkung.